XDAL237 X射線熒光測(cè)厚儀 憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)(可選)與自上而下的測(cè)量方向,XDL系列測(cè)量儀器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測(cè)試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測(cè)器不同組合的多種型號(hào),從而能夠根據(jù)不同的測(cè)量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設(shè)計(jì)上,F(xiàn)ISCHERSCOPE XRAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對(duì)應(yīng)。
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