TP200/TP200B測(cè)頭本體SF(標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力) TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測(cè)量,即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在數(shù)百萬(wàn)次觸發(fā)中的可靠操作。
查看詳細(xì)介紹TP200標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力測(cè)頭模塊A-1207-0001 現(xiàn)貨 TP200包含TP200測(cè)頭體(傳感器)和測(cè)力模塊 組合1 包含標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力模塊和測(cè)頭體A-1207-0001 組2 包含低測(cè)力模塊和測(cè)頭體A-1207-0002 TP200傳感器(測(cè)頭體)型號(hào)為A-1207-0020
查看詳細(xì)介紹TP200 / TP200B測(cè)頭模塊 TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測(cè)量,即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題
查看詳細(xì)介紹Renishaw TP200坐標(biāo)機(jī)測(cè)頭理想性?xún)r(jià)比 觸發(fā)式測(cè)頭測(cè)量離散的點(diǎn),是檢測(cè)三維幾何工件的理想選擇。雷尼紹提供品種齊全、具有理想性?xún)r(jià)比的系統(tǒng),既可在手動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上進(jìn)行簡(jiǎn)單的性能檢測(cè),也可在數(shù)控高速機(jī)器上進(jìn)行復(fù)雜輪廓測(cè)量。
查看詳細(xì)介紹共 4 條記錄,當(dāng)前 1 / 1 頁(yè) 首頁(yè) 上一頁(yè) 下一頁(yè) 末頁(yè) 跳轉(zhuǎn)到第頁(yè)