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產(chǎn)品名稱: |
無損鍍銀測(cè)厚儀 fischer x-ray xdl 230 |
發(fā)布時(shí)間: |
2024-09-04 |
產(chǎn)品品牌: |
Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾 |
產(chǎn)品特點(diǎn): |
無損鍍銀測(cè)厚儀 fischer x-ray xdl 230能量散射X射線熒光光譜法(EDXRF)作為鍍層厚度測(cè)量和材料分析的方法,可用來定量和定性分析樣品的元素組成,也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測(cè)量。無論是在實(shí)驗(yàn)室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中,這一方法都能完美勝任,并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。 |
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無損鍍銀測(cè)厚儀 fischer x-ray xdl 230的詳細(xì)資料: |
無損鍍銀測(cè)厚儀 fischer x-ray xdl 230能量散射X射線熒光光譜法(EDXRF)作為鍍層厚度測(cè)量和材料分析的方法,可用來定量和定性分析樣品的元素組成,也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測(cè)量。無論是在實(shí)驗(yàn)室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中,這一方法都能完美勝任,并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。 應(yīng)用范圍: 無論是電鍍廠的簡(jiǎn)單的鍍層厚度測(cè)量(例如鐵上鍍鋅),還是鍍液分析,復(fù)雜的多鍍層應(yīng)用, 非常復(fù)雜的貴金屬分析或痕量分析(RoHS),一個(gè)軟件程序就可以完成所有的測(cè)量應(yīng)用:WinFTM。 儀器描述: FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和XULM系列密切相關(guān):兩者都使用相同的接收器,準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測(cè)量。 XDLM型號(hào)的X射線源采用微聚焦管,可以測(cè)量細(xì)小的部件,對(duì)低輻射組分有較好的激勵(lì)作用。此外,XDLM配備了可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測(cè)量應(yīng)用創(chuàng)造理想的激勵(lì)條件。 兩種型號(hào)的儀器都配備了比例接收器探測(cè)器。即使對(duì)于很小的測(cè)量點(diǎn),由于接收器的接收面積很大,仍然可以獲得足夠高的計(jì)數(shù)率,確保良好的重復(fù)精度。 比較XUL和XULM儀器而言,XDL和XDLM系列儀器測(cè)量測(cè)量方向從上到下。它們被設(shè)計(jì)為用戶友好的臺(tái)式機(jī),使用模塊化結(jié)構(gòu),也就是說它們可以配備簡(jiǎn)單支板,各種XY工作臺(tái)和Z軸以適應(yīng)不同的需求。 特征 - 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。*高工作條件:50KV,50W
- X射線探測(cè)器采用比例接收器
- 準(zhǔn)直器:固定或4個(gè)自動(dòng)切換,0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
- 基本濾片:固定或3個(gè)自動(dòng)切換
- 測(cè)量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
- 固定樣品支撐臺(tái) ,手動(dòng)XY工作臺(tái)
- 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測(cè)量位置。刻度線經(jīng)過校準(zhǔn),顯示實(shí)際測(cè)量點(diǎn)大小。
- 設(shè)計(jì)獲得許可,防護(hù)全面,符合德國(guó)X射線條例第4章第3節(jié)
典型應(yīng)用領(lǐng)域 - 大批量電鍍件測(cè)量
- 防腐和裝飾性鍍層,如鎳或銅上鍍鉻
- 電鍍行業(yè)槽液分析
- 線路板行業(yè)如薄金,鉑和鎳鍍層的策略
- 測(cè)量接插件和觸點(diǎn)的鍍層
- 電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能性鍍層測(cè)量
- 黃金,珠寶和手表行業(yè)
篤摯儀器是德國(guó)Fischer菲希爾的正規(guī)代理,我司位于上海,產(chǎn)品銷售網(wǎng)絡(luò)遍布各地,所售儀器種類齊全,*,附正規(guī)檢驗(yàn)證書,出廠說明等,保證原裝真品,公司以優(yōu)質(zhì)的售前、售中、售后服務(wù)和技術(shù)人員專業(yè)的贏得廣大用戶*認(rèn)可和好評(píng),歡迎詢價(jià)比價(jià)!
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