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思看科技 prince775便攜式三維掃描儀，得益于紅色和藍(lán)色激光工作模式，高效率和超高細(xì)節(jié)是PRINCE的*之處。 掃描大平面甚至小硬幣都很容易，廣泛應(yīng)用于工業(yè)設(shè)計(jì)，逆向工程，質(zhì)量控制，質(zhì)量檢查，文物3D數(shù)字，3D電影，3D游戲VR / AR等。技術(shù)規(guī)格類型PRINCE775模式標(biāo)準(zhǔn)模式R 超精細(xì)模式B重量0.95kg尺寸315 * 165 * 105mm激光源7個(gè)紅色激光交叉（+1個(gè)額外的紅色激光）5條藍(lán)色平行激光線掃描深孔支持…

思看科技 prince775系列三維掃描儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

?極*細(xì)節(jié):藍(lán)光模式下采用5束平行線激光掃描，很高的分辨率可清晰獲取傳統(tǒng)手持式紅色激光難以獲取的三維細(xì)節(jié);
?高效掃描:多束紅色交叉線激光掃描，掃描速度快;單束紅色線激光掃描, 可迅速獲取深孔及死角三維數(shù)據(jù);
?雙色激光: 紅藍(lán)激光兩種掃描模式快速切換，具備手持式三維掃描儀靈活便攜的特點(diǎn)，同時(shí)可獲取高細(xì)節(jié)度的三維數(shù)據(jù);
?同坐標(biāo)系:上述幾種工作模式可以通過儀器按鈕實(shí)時(shí)切換，且各種模式掃描數(shù)據(jù)在同一坐標(biāo)系三維數(shù)據(jù)中，無需后期拼接;
?很高精度: 精度高達(dá)0.03mm，保證獲取準(zhǔn)確的三維測(cè)量數(shù)據(jù);
?自動(dòng)定位:目標(biāo)點(diǎn)自動(dòng)定位，不需要額外機(jī)械臂或其他跟蹤設(shè)備
?動(dòng)態(tài)測(cè)量: 被掃描物體可以移動(dòng)，無需固定;
?實(shí)時(shí)顯示: 掃描數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)呈現(xiàn)，點(diǎn)云無分層，自動(dòng)生成三維實(shí)體圖形;真正實(shí)現(xiàn)“所見即所得”;
?應(yīng)用廣泛: 能掃描不同大小形狀的物體，大到一架飛機(jī)，小到一枚硬幣，都可以輕松掃描; .
?抗干擾性:外部環(huán)境對(duì)掃描精度影響小，即使是陽光直射也能正常工作;
?適用性強(qiáng): 高亮反光及純黑物體表面都可直接掃描，絕大部分情況下都不需要噴顯像增強(qiáng)劑。
?靈活操作:手持測(cè)量，操作簡(jiǎn)便，可以隨時(shí)變化角度和距離對(duì)被測(cè)物體進(jìn)行快速掃描;也可在狹窄的空間掃描，如飛機(jī)駕駛艙，汽車內(nèi)部?jī)x表板等;
?接口穩(wěn)定:信號(hào)及電源線集成在同一個(gè)工業(yè)接頭接插，即儀器與線纜間只有一個(gè)接口，保證穩(wěn)定性和便利性;

三維掃描儀（3D scanner）是一種科學(xué)儀器，用來偵測(cè)并分析現(xiàn)實(shí)世界中物體或環(huán)境的形狀（幾何構(gòu)造）與外觀數(shù)據(jù)（如顏色、表面反照率等性質(zhì)）。搜集到的數(shù)據(jù)常被用來進(jìn)行三維重建計(jì)算，在虛擬世界中創(chuàng)建實(shí)際物體的數(shù)字模型。這些模型具有相當(dāng)廣泛的用途，舉凡工業(yè)設(shè)計(jì)、瑕疵檢測(cè)、逆向工程、機(jī)器人導(dǎo)引、地貌測(cè)量、醫(yī)學(xué)信息、生物信息、刑事鑒定、數(shù)字文物典藏、電影制片、游戲創(chuàng)作素材等等都可見其應(yīng)用。三維掃描儀的制作并非仰賴單一技術(shù)，各種不同的重建技術(shù)都有其優(yōu)缺點(diǎn)，成本與售價(jià)也有高低之分。通過三維掃描技術(shù)可以獲得掃描物體的外形三維數(shù)據(jù)，將獲得的三維掃描數(shù)據(jù)和原始的三維圖紙進(jìn)行3D比較分析，可以輕松獲得各個(gè)位置的偏差值，為大曲面，復(fù)雜結(jié)構(gòu)的尺寸檢測(cè)提供友好的解決方案。除此以外，還可以通過三維數(shù)據(jù)的擬合輕松獲得諸如同軸度，孔距孔徑，裝配間隙等數(shù)據(jù)，在三維數(shù)據(jù)中提取和獲得二維尺寸。

篤摯儀器（上海）有限公司主營檢測(cè)儀器設(shè)備有：
    ==>>德國菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀；
    ==>>英國泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x；
    ==>>德國馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量?jī)x、千分尺、卡尺；
    ==>>德國EPK（Elektrophysik）手持式涂覆層測(cè)厚儀；
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    ==>>美國GE無損檢測(cè)超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀；
    ==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測(cè)高儀、千分尺、卡尺；
    ==>>英國雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺；
    ==>>德國Fraunhofer－IZFP無損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無損測(cè)量系統(tǒng)；
    ==>>美國FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器；
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    ==>>TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、萬能測(cè)長(zhǎng)機(jī)；
    ==>>杭州思看科技三維掃描儀.