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產(chǎn)品名稱:
華東代理fischer xdl-b鍍層測(cè)厚儀
發(fā)布時(shí)間:
2024-09-02
產(chǎn)品品牌:
Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾
產(chǎn)品特點(diǎn):
華東代理fischer xdl-b鍍層測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows 的鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測(cè)量方向從上往下,單一鍍層、二元合金層、三元合金層和雙鍍層例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/C
  華東代理fischer xdl-b鍍層測(cè)厚儀的詳細(xì)資料:

華東代理fischer xdl-b鍍層測(cè)厚儀

FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows 的鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測(cè)量方向從上往下。篤摯儀器(上海)有限公司經(jīng)過(guò)多年的經(jīng)營(yíng)建立了完善的產(chǎn)品體系。通過(guò)傳統(tǒng)渠道和互聯(lián)網(wǎng)渠道相結(jié)合的方式,形成了完整的營(yíng)銷脈絡(luò),使貿(mào)易方式更加高效豐富。篤摯儀器(上海)有限公司把優(yōu)質(zhì)服務(wù)視為企業(yè)的生命,為使廣大用戶享受完整的配套服務(wù), 完善的技術(shù)咨詢及完美的售后服務(wù), 多年來(lái)產(chǎn)品服務(wù)不斷升級(jí),得到廣大用戶的*??!歡迎大家來(lái)我們公司實(shí)地考察!

FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows 的鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測(cè)量方向從上往下。XDL-B 的特色是*的距離修正方法。 DCM方法(距離控制測(cè)量)自動(dòng)地修正在不同的測(cè)量距離上光譜強(qiáng)度的差別。對(duì)于XDL?-B 帶測(cè)量距離固定的X-射線頭,這一特性提供了能在復(fù)雜幾何外形的測(cè)試工件和不同測(cè)量距離上實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)便測(cè)量的可能性。在加強(qiáng)的軟件功能之下,簡(jiǎn)化了測(cè)量比較復(fù)雜鍍層的程序,甚至可以在不需要標(biāo)準(zhǔn)片之下,一樣精準(zhǔn)測(cè)量。

 

華東代理fischer xdl-b鍍層測(cè)厚儀典型的應(yīng)用范圍如下:
單一鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
雙鍍層,其中一個(gè)鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。分析多達(dá)4種(或24種-使用V.6軟件)元素。

 

 

一、德國(guó)菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚測(cè)試儀介紹:
1、適用于Windows®2000或Windows® XP的真Win32位程序帶在線幫助功能。 
2、頻譜庫(kù)中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的產(chǎn)品。 
3、能通過(guò)“應(yīng)用工具箱”(由一個(gè)帶所有應(yīng)用參數(shù)的軟盤和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊組成)使應(yīng)用的校準(zhǔn)簡(jiǎn)單化。 
4、畫中畫測(cè)試件查看和數(shù)據(jù)顯示,帶快速移動(dòng)焦距功能放大試件圖像;計(jì)算機(jī)生成的刻度化的瞄準(zhǔn)十字星,并有X-射線光束大小指示器(光束的大小取決于測(cè)量的距離,見(jiàn)背面)
5、圖形化的用戶界面,測(cè)試件的圖像顯示可插入于測(cè)試報(bào)告中 
6、對(duì)試件與視準(zhǔn)器之間的距離進(jìn)行視覺(jué)控制的校正(DCM方法)范圍可達(dá)80mm(3.2〞)

二、德國(guó)菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚測(cè)試儀特點(diǎn):
1、FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows® 的鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測(cè)量方向從上往下。 
2、XDL®-B 的特色是*的距離修正方法。DCM方法(距離控制測(cè)量)自動(dòng)地修正在不同的測(cè)量距離上光譜強(qiáng)度的差別。對(duì)于XDL®-B 帶測(cè)量距離固定的X-射線頭,這一特性提供了能在復(fù)雜幾何外形的測(cè)試工件和不同測(cè)量距離上實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)便測(cè)量的可能性。特別針對(duì)微波腔體之類樣品的底部鍍層厚度進(jìn)行測(cè)量。

三、德國(guó)菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚測(cè)試儀技術(shù)參數(shù):
1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根據(jù)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射線熒光測(cè)試方法;
2.原始射線從上至下; 
3.X-射線管高壓設(shè)定可調(diào)節(jié)至*佳的應(yīng)用:50kV,40kV或30kV; 
4.單個(gè)0.3mm直徑(12 mils)的標(biāo)準(zhǔn)視準(zhǔn)器,在附加費(fèi)用的基礎(chǔ)上可選擇0.05×0.3 mm(2×12 mil)帶槽視準(zhǔn)器;或直徑0.1mm;或直徑0.2mm;或0.4X0.4mm方形。
5.測(cè)量箱外部尺寸:(高×寬×深)650 mm×570 mm×740 mm(26〞×22〞×29〞),重量大約為105kg(120lbs); 
6.帶槽箱體的內(nèi)部尺寸:(高×寬×深)300 mm×460 mm×500 mm(12〞×18〞×20〞)帶向上回轉(zhuǎn)箱門; 
7.嵌入式固定的測(cè)試件支承板,需要時(shí)可移去以適用于大件的超出尺寸的測(cè)試工件。 
8.從X-射線頭部(X-射線管,成比例的反射接收器及視準(zhǔn)器)至測(cè)試件平面支承板有三種可選擇的固定距離。需要的設(shè)定距離(見(jiàn)背面)必須在定貨時(shí)明確(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定:中間位置) 
9.試件查看用彩色攝像機(jī) ,華東代理fischer xdl-b鍍層測(cè)厚儀
10.帶有LED狀態(tài)指示燈的測(cè)量開始/結(jié)束按鈕與測(cè)試箱集成在一體

產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字: 華東代理fischer xdl-b鍍層測(cè)厚儀 xdl-b fischer xdl-b fischer
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