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qnix®8500薄鍍層探頭mi fe 500

 QNix8500薄鍍層探頭MI FE 500

薄鍍層探頭簡介

QNix薄鍍層探頭MIFE500是德國公司研發(fā)的、專門測量很薄涂鍍層厚度的磁感應探頭。它很高的測量精度和重復性為您測量很薄的覆層厚度提供了有效手段。它可以用來測量所有磁性金屬基體上的非磁性涂鍍層，分辨率高達0.01μm。.
為了滿足在測量很薄的鍍層厚度時對精度的苛求，我公司還提供工作臺。使用該工作臺可大大減少人為操作引起的誤差，尤其在測量釘子、螺栓等小工件是效果尤為明顯。

主要特點：

零位穩(wěn)定：所有涂層測厚儀測量前都要求校準零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測量準確的前提。一臺好的測厚儀校零后，可以長時間保持零位不漂移，確保準確測量。 
無需校準：多數(shù)涂層測厚儀除了校零外，還需要用標準片進行調(diào)校。測量某一范圍厚度，要用某一范圍的標準片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會因標準片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。尼克斯涂層測厚儀可以滿足全量程范圍內(nèi)數(shù)值準確
溫度補償：涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測量會得出很大的誤差。所以好的測厚儀應該具備理想的溫度補償技術(shù)，以保證不同溫度下的測量精度。 
紅寶石探頭：探頭接觸點的耐磨性直接影響測量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會帶來很大的誤差。 
*的直流采樣技術(shù)：使得測量重復性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有**的*和提高。 單探頭量程大：0－5mm

QNix8500涂層測厚儀

QNIX8500涂鍍層測厚儀一-體分體通用，帶菜單操作，是一種智能化的測厚儀。可通過更換探頭來滿足不同的測量要求，可存儲統(tǒng)計數(shù)據(jù)，并且可與計算機進行無線數(shù)據(jù)傳輸。該儀器主機通用，探頭有普通探頭、無線探頭、薄鍍層探頭多種，用戶購買時請根據(jù)需要選擇合適的探頭，購買一臺主機即可滿足不同的需求，只需簡單的更換探頭。QNix8500可通過菜單設(shè)置單點或兩點校準、單次測量或連續(xù)測量，連續(xù)測量只需將探頭壓實在被測物表面，由儀器自動完成多次測量，避免人為操作不當帶來的測量誤差。也可通過菜單選擇Fe/NFe同時測量，測量磁性基體Fe表面的非磁性金屬鍍層NFe厚度及非磁性金屬鍍層NFe表面的涂層厚度，功能強大。