minitest4100涂層測(cè)厚儀校準(zhǔn)方法 |
點(diǎn)擊次數(shù):1659 更新時(shí)間:2021-02-19 |
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有五種不同的校準(zhǔn)方法:1.標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn):建議在平坦的表面上進(jìn)行測(cè)量,并且如果測(cè)量對(duì)象的材料,尺寸和曲率與ElektroPhysik零板相同,則建議進(jìn)行校準(zhǔn)。 2.單點(diǎn)校準(zhǔn)(不使用校準(zhǔn)箔進(jìn)行歸零):如果允許的測(cè)量誤差大為±(讀數(shù)的3%*加上探頭的恒定誤差),則建議使用。 (探頭恒定誤差示例:F.1.6:1μm)。。 3.兩點(diǎn)校準(zhǔn)(使用校準(zhǔn)箔進(jìn)行歸零和校準(zhǔn)):如果預(yù)期讀數(shù)將接近校準(zhǔn)值,并且允許的探頭誤差大為±(1%... 3%of讀數(shù)*(根據(jù)探頭)加上恒定的探頭誤差) *請(qǐng)參考實(shí)驗(yàn)室條件下提供的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。 4.兩點(diǎn)校準(zhǔn)(使用一組兩個(gè)校準(zhǔn)箔): a)建議用于粗糙表面的測(cè)量。 b)如果期望的厚度在兩個(gè)校準(zhǔn)箔片之間,建議在光滑表面上進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。 5.通過(guò)涂層(CTC)進(jìn)行校準(zhǔn):使用校準(zhǔn)箔進(jìn)行校準(zhǔn)。如果測(cè)試樣品已涂覆且沒(méi)有未涂覆的樣品可用于比較,則建議使用。此方法適用于以下探頭:F05,F(xiàn)1.6,F(xiàn)3和FN1.6(僅含鐵零件),F(xiàn)1.6 / 90,F(xiàn)2 / 90,F(xiàn)10,F(xiàn)20和F50。 請(qǐng)注意: 在本手冊(cè)中,“校準(zhǔn)箔”一詞適用于所有校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn),包括通常不被描述為“箔”的那些:厚度分別為2mm,5mm和10m的那些。 校準(zhǔn)示例:
校準(zhǔn)是進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量的*重要要求。 校準(zhǔn)樣品與產(chǎn)品樣品的距離越近,校準(zhǔn)和讀數(shù)的準(zhǔn)確性就越高。 例如,如果要在直徑為6 mm的ST37(低碳鋼)鋼制圓柱體上測(cè)量產(chǎn)品,則未涂覆樣品的校準(zhǔn)必須在具有相同直徑的類似質(zhì)量的鋼制圓柱體上進(jìn)行。 校準(zhǔn)樣品必須通過(guò)以下方式與產(chǎn)品樣品相對(duì)應(yīng): ·曲率半徑 ·基材材料性能 ·基材厚度 ·測(cè)量區(qū)域的大小 ·校準(zhǔn)點(diǎn) 注意:校準(zhǔn)樣品必須始終與產(chǎn)品本身的測(cè)量點(diǎn)相同,尤其是在小零件的角和邊緣的情況下。 |
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